In situ Thin Film Growth for Polarized Neutron Reflectometry
No abstract available.
URL: https://publications.hereon.de/id/40453/
Authors:Kreuzpaintner, W., Mayr, S., Ye, J., Wiedemann, B., Book, A., Inanloo-Maranloo, Z., Mairoser, T., Schmehl, A., Herrnberger, A., Stahn, J., Moulin, J., Korelis, P., Haese, M., Pomm, M., Heigl, M., Böni, P., Mannhart, J., Albrecht, M.
Year:2018
In: 9th JEMS Conference 2018: Joint European Magnetic Symposia
Location:Mainz (GER)
Date:03.09.2018 - 07.09.2018
Cite as: Kreuzpaintner, W.; Mayr, S.; Ye, J.; Wiedemann, B.; Book, A.; Inanloo-Maranloo, Z.; Mairoser, T.; Schmehl, A.; Herrnberger, A.; Stahn, J.; Moulin, J.; Korelis, P.; Haese, M.; Pomm, M.; Heigl, M.; Böni, P.; Mannhart, J.; Albrecht, M.: In situ Thin Film Growth for Polarized Neutron Reflectometry. In: 9th JEMS Conference 2018: Joint European Magnetic Symposia. Mainz (GER), 03.09.2018 - 07.09.2018, 2018.
