Depth-resolved residual stress analysis by means of high energy synchrotron radiation
No abstract available.
URL: https://publications.hereon.de/id/27762/
Authors:Froembgen, S., Fischer, T., Staron, P., Schreyer, A.
Year:2010
In: Deutsche Tagung fuer Forschung mit Synchrotronstrahlung, Neutronen und Ionenstrahlen an Grossgeraeten, SNI 2010
Location:Berlin (D)
Date:24.-26.02.2010
Cite as: Froembgen, S.; Fischer, T.; Staron, P.; Schreyer, A.: Depth-resolved residual stress analysis by means of high energy synchrotron radiation. In: Deutsche Tagung fuer Forschung mit Synchrotronstrahlung, Neutronen und Ionenstrahlen an Grossgeraeten, SNI 2010. Berlin (D), 24.-26.02.2010, 2010.
