Quantitative TEM-Charakterisierung komplexer Schichtsysteme mit Hilfe der geometrischen Phasenmethode
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URL: https://publications.hereon.de/id/23426/
Authors:Haeussler, D., Jaeger, W., Yang, S., Spieker, E., Stoermer, M., Zwicker, G.
Year:2005
In: Jahrestagung - Deutsche Gesellschaft fuer Kristallographie (DGK), Deutsche Gesellschaft fuer Kristallwachstum und Kristallzuechtung (DGKK) und Nationalkomitee fuer Kristallographie der Oesterreichischen Akademie der Wissenschaften (NKK-OEAW)
Location:Koeln (D)
Date:28.02.-04.03.2005
Cite as: Haeussler, D.; Jaeger, W.; Yang, S.; Spieker, E.; Stoermer, M.; Zwicker, G.: Quantitative TEM-Charakterisierung komplexer Schichtsysteme mit Hilfe der geometrischen Phasenmethode. In: Jahrestagung - Deutsche Gesellschaft fuer Kristallographie (DGK), Deutsche Gesellschaft fuer Kristallwachstum und Kristallzuechtung (DGKK) und Nationalkomitee fuer Kristallographie der Oesterreichischen Akademie der Wissenschaften (NKK-OEAW). Koeln (D), 28.02.-04.03.2005, 2005.
