Measurement of the SMC muon beam polarisation using the asymmetry in the elastic scattering off polarised electrons

Adams, D.; Adeva, B.; Akdogan, T.; Arik, E.; Arvidson, A.; Badelek, B.; Bardin, G.; Baum, G.; Berglund, P.; Betev, L.; Birsa, R.; Bjorkholm, P.; Bonner, B.E.; Botton, N.de; Boutemeur, M.; Bradamante, F.; Bravar, A.; Bressan, A.; Bultmann, S.; Burtin, E.; Cavata, C.; Clocchiatti, M.; Crabb, D.; Cranshaw, J.; Cuhadar, T.; Dalla, Torre, S.; Dantzig, R.van; Derro, B.; Deshpande, A.; Dhawan, S.; Dulya, C.; Dyring, A.; Eichblatt, S.; Faivre, J.C.; Fasching, D.; Feinstein, F.; Fernandez, C.; Forthmann, S.; Frois, B.; Gallas, A.; Garzon, J.A.; Gatignon, L.; Gaussiran, T.; Gilly, H.; Giorgi, M.; Goeler, E.v.; Goertz, S.; Golutvin, I.A.; Gracia, G.; Groot, N.de; Grosse Perdekamp, M.; Haft, K.; Harrach, D.v.; Hasegawa, T.; Hautle, P.; Hayashi, N.; Heusch, C.A.; Horikawa, N.; Hughes, V.W.; Igo, G.; Ishimoto, S.; Iwata, T.; Kabuss, E.M.; Kageya, T.; Karev, A.; Kessler, H.J.; Ketel, T.J.; Kiryluk, J.; Kiryushin, I.; Kishi, A.; Kisselev, Y.; Klostermann, L.; Kramer, D.; Krivokhijine, V.; Kroger, W.; Kukhtin, V.; Kurek, K.; Kyynarainen, J.; Lamanna, M.; Landgraf, U.; Le Goff, J.M.; Lehar, F.; Lesquen, A.de; Lichtenstadt, J.; Lindqvist, T.; Litmaath, M.; Lowe, M.; Magnon, A.; Mallot, G.K.; Marie, F.; Martin, A.; Martino, J.; Matsuda, T.; Mayes, B.; McCarthy, J.S.; Medved, K.; Meyer, W.; Middelkoop, G.van; Miller, D.; Miyachi, Y.; Mori, K.; Moromisato, J.; Nagaitsev, A.; Nassalski, J.; Naumann, L.; Niinikoski, T.O.; Oberski, J.E.J.; Ogawa, A.; Ozben, C.; Pereira, H.; Perrot-Kunne, F.; Peshekhonov, D.; Piegaia, R.; Pinsky, L.; Platchkov, S.; Plo, M.; Pose, D.; Postma, H.; Pretz, J.; Pussieux, T.; Radel, G.; Rijllart, A.; Reicherz, G.; Roberts, J.B.; Rock, S.; Rodriguez, M.; Rondio, E.; Ropelewski, L.; Sabo, I.; Saborido, J.; Sandacz, A.; Savin, I.; Schiavon, P.; Schiller, A.; Schuler, K.P.; Seitz, R.; Semertzidis, Y.; Sergeev, S.; Shanahan, P.; Sichtermann, E.P.; Simeoni, F.; Smirnov, G.I.; Staude, A.; Steinmetz, A.; Stiegler, U.; Stuhrmann, H.; Szleper, M.; Tessarotto, F.; Thers, D.; Tlaczala, W.; Tripet, A.; Unel, G.; Velasco, M.; Vogt, J.; Voss, R.; Whitten, C.; Windmolders, R.; Willumeit, R.; Wislicki, W.; Witzmann, A.; Ylostalo, J.; Zanetti, A.M.; Zaremba, K.; Zamiatin, N.I.; Zhao, J.

Journalpaper

Measurement of the SMC muon beam polarisation using the asymmetry in the elastic scattering off polarised electrons

No abstract available.

URL: https://publications.hereon.de/id/21212/
Authors:Adams, D., Adeva, B., Akdogan, T., Arik, E., Arvidson, A., Badelek, B., Bardin, G., Baum, G., Berglund, P., Betev, L., Birsa, R., Bjorkholm, P., Bonner, B.E., Botton, N.de, Boutemeur, M., Bradamante, F., Bravar, A., Bressan, A., Bultmann, S., Burtin, E., Cavata, C., Clocchiatti, M., Crabb, D., Cranshaw, J., Cuhadar, T., Dalla, Torre, S., Dantzig, R.van, Derro, B., Deshpande, A., Dhawan, S., Dulya, C., Dyring, A., Eichblatt, S., Faivre, J.C., Fasching, D., Feinstein, F., Fernandez, C., Forthmann, S., Frois, B., Gallas, A., Garzon, J.A., Gatignon, L., Gaussiran, T., Gilly, H., Giorgi, M., Goeler, E.v., Goertz, S., Golutvin, I.A., Gracia, G., Groot, N.de, Grosse Perdekamp, M., Haft, K., Harrach, D.v., Hasegawa, T., Hautle, P., Hayashi, N., Heusch, C.A., Horikawa, N., Hughes, V.W., Igo, G., Ishimoto, S., Iwata, T., Kabuss, E.M., Kageya, T., Karev, A., Kessler, H.J., Ketel, T.J., Kiryluk, J., Kiryushin, I., Kishi, A., Kisselev, Y., Klostermann, L., Kramer, D., Krivokhijine, V., Kroger, W., Kukhtin, V., Kurek, K., Kyynarainen, J., Lamanna, M., Landgraf, U., Le Goff, J.M., Lehar, F., Lesquen, A.de, Lichtenstadt, J., Lindqvist, T., Litmaath, M., Lowe, M., Magnon, A., Mallot, G.K., Marie, F., Martin, A., Martino, J., Matsuda, T., Mayes, B., McCarthy, J.S., Medved, K., Meyer, W., Middelkoop, G.van, Miller, D., Miyachi, Y., Mori, K., Moromisato, J., Nagaitsev, A., Nassalski, J., Naumann, L., Niinikoski, T.O., Oberski, J.E.J., Ogawa, A., Ozben, C., Pereira, H., Perrot-Kunne, F., Peshekhonov, D., Piegaia, R., Pinsky, L., Platchkov, S., Plo, M., Pose, D., Postma, H., Pretz, J., Pussieux, T., Radel, G., Rijllart, A., Reicherz, G., Roberts, J.B., Rock, S., Rodriguez, M., Rondio, E., Ropelewski, L., Sabo, I., Saborido, J., Sandacz, A., Savin, I., Schiavon, P., Schiller, A., Schuler, K.P., Seitz, R., Semertzidis, Y., Sergeev, S., Shanahan, P., Sichtermann, E.P., Simeoni, F., Smirnov, G.I., Staude, A., Steinmetz, A., Stiegler, U., Stuhrmann, H., Szleper, M., Tessarotto, F., Thers, D., Tlaczala, W., Tripet, A., Unel, G., Velasco, M., Vogt, J., Voss, R., Whitten, C., Windmolders, R., Willumeit, R., Wislicki, W., Witzmann, A., Ylostalo, J., Zanetti, A.M., Zaremba, K., Zamiatin, N.I., Zhao, J.
Year:2000
In: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research A
Volume:443
Issue:1
Pages:1 - 19
Type:Journalpaper
ISSN: 0168-9002
Cite as: Adams, D.; Adeva, B.; Akdogan, T.; Arik, E.; Arvidson, A.; Badelek, B.; Bardin, G.; Baum, G.; Berglund, P.; Betev, L.; Birsa, R.; Bjorkholm, P.; Bonner, B.E.; Botton, N.de; Boutemeur, M.; Bradamante, F.; Bravar, A.; Bressan, A.; Bultmann, S.; Burtin, E.; Cavata, C.; Clocchiatti, M.; Crabb, D.; Cranshaw, J.; Cuhadar, T.; Dalla, Torre, S.; Dantzig, R.van; Derro, B.; Deshpande, A.; Dhawan, S.; Dulya, C.; Dyring, A.; Eichblatt, S.; Faivre, J.C.; Fasching, D.; Feinstein, F.; Fernandez, C.; Forthmann, S.; Frois, B.; Gallas, A.; Garzon, J.A.; Gatignon, L.; Gaussiran, T.; Gilly, H.; Giorgi, M.; Goeler, E.v.; Goertz, S.; Golutvin, I.A.; Gracia, G.; Groot, N.de; Grosse Perdekamp, M.; Haft, K.; Harrach, D.v.; Hasegawa, T.; Hautle, P.; Hayashi, N.; Heusch, C.A.; Horikawa, N.; Hughes, V.W.; Igo, G.; Ishimoto, S.; Iwata, T.; Kabuss, E.M.; Kageya, T.; Karev, A.; Kessler, H.J.; Ketel, T.J.; Kiryluk, J.; Kiryushin, I.; Kishi, A.; Kisselev, Y.; Klostermann, L.; Kramer, D.; Krivokhijine, V.; Kroger, W.; Kukhtin, V.; Kurek, K.; Kyynarainen, J.; Lamanna, M.; Landgraf, U.; Le Goff, J.M.; Lehar, F.; Lesquen, A.de; Lichtenstadt, J.; Lindqvist, T.; Litmaath, M.; Lowe, M.; Magnon, A.; Mallot, G.K.; Marie, F.; Martin, A.; Martino, J.; Matsuda, T.; Mayes, B.; McCarthy, J.S.; Medved, K.; Meyer, W.; Middelkoop, G.van; Miller, D.; Miyachi, Y.; Mori, K.; Moromisato, J.; Nagaitsev, A.; Nassalski, J.; Naumann, L.; Niinikoski, T.O.; Oberski, J.E.J.; Ogawa, A.; Ozben, C.; Pereira, H.; Perrot-Kunne, F.; Peshekhonov, D.; Piegaia, R.; Pinsky, L.; Platchkov, S.; Plo, M.; Pose, D.; Postma, H.; Pretz, J.; Pussieux, T.; Radel, G.; Rijllart, A.; Reicherz, G.; Roberts, J.B.; Rock, S.; Rodriguez, M.; Rondio, E.; Ropelewski, L.; Sabo, I.; Saborido, J.; Sandacz, A.; Savin, I.; Schiavon, P.; Schiller, A.; Schuler, K.P.; Seitz, R.; Semertzidis, Y.; Sergeev, S.; Shanahan, P.; Sichtermann, E.P.; Simeoni, F.; Smirnov, G.I.; Staude, A.; Steinmetz, A.; Stiegler, U.; Stuhrmann, H.; Szleper, M.; Tessarotto, F.; Thers, D.; Tlaczala, W.; Tripet, A.; Unel, G.; Velasco, M.; Vogt, J.; Voss, R.; Whitten, C.; Windmolders, R.; Willumeit, R.; Wislicki, W.; Witzmann, A.; Ylostalo, J.; Zanetti, A.M.; Zaremba, K.; Zamiatin, N.I.; Zhao, J.: Measurement of the SMC muon beam polarisation using the asymmetry in the elastic scattering off polarised electrons. In: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research A. Vol. 443 (2000) 1, 1 - 19.