Moeglichkeiten und Grenzen der Membrancharakterisierung mit Methoden der Rasterelektronenmikroskopie
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URL: https://publications.hereon.de/id/21160/
Authors:Schossig, M.
Year:2002
In: Membrantagung der deutschen Gesellschaft für Membrantechnik
Location:Kassel (D)
Date:26.-27.11.2002
Cite as: Schossig, M.: Moeglichkeiten und Grenzen der Membrancharakterisierung mit Methoden der Rasterelektronenmikroskopie. In: Membrantagung der deutschen Gesellschaft für Membrantechnik. Kassel (D), 26.-27.11.2002, 2002.
