Elektronenmikroskopische Charakterisierung von Defekten und Verformungsmechanismen in Titanaluminid-Legierungen
No abstract available.
URL: https://publications.hereon.de/id/20323/
Authors:Appel, F.
Year:2001
In: Kolloquium an der Westfaelischen Wilhelms-Universitaet, Institut fuer Metallforschung
Location:Muenster (D)
Date:13.11.2001
University: Wilhelms-Universitaet Muenster
Cite as: Appel, F.: Elektronenmikroskopische Charakterisierung von Defekten und Verformungsmechanismen in Titanaluminid-Legierungen. In: Kolloquium an der Westfaelischen Wilhelms-Universitaet, Institut fuer Metallforschung. Muenster (D), 13.11.2001, 2001.
