Quantitative Tiefenprofilanalyse mit der Totalreflexions-Roentgenfluoreszensanalyse
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URL: https://publications.hereon.de/id/15856/
Authors:Wiener, G.,Michaelsen, C.,Knoth, J.,Schwenke, H.,Bormann, R.
Year:1994
In: Fruehjahrstagung der Deutschen Physikalischen Gesellschaft
Location:Muenster (D)
Date:21.-25.03.1994
Type:conference lecture
Cite as: Wiener, G.; Michaelsen, C.; Knoth, J.; Schwenke, H.; Bormann, R.: Quantitative Tiefenprofilanalyse mit der Totalreflexions-Roentgenfluoreszensanalyse. Fruehjahrstagung der Deutschen Physikalischen Gesellschaft. Muenster (D), 1994.
