X-ray induced fluorescence spectrometry at grazing incidence for quantitative surface layer analysis

conference lecture

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URL: https://publications.hereon.de/id/15812/
Authors:Weisbrod, U.,Gutschke, R.,Knoth, J.,Schwenke, H.
Year:1990
In: Fachausschuss Oberflaechenphysik in der Deutschen Physikalischen Gesellschaft: 6. Arbeitstagung Angewandte Oberflaechenanalytik
Location:Kaiserslautern (D)
Date:9.-12. Juli 1990
Type:conference lecture
Cite as: Weisbrod, U.; Gutschke, R.; Knoth, J.; Schwenke, H.: X-ray induced fluorescence spectrometry at grazing incidence for quantitative surface layer analysis. Fachausschuss Oberflaechenphysik in der Deutschen Physikalischen Gesellschaft: 6. Arbeitstagung Angewandte Oberflaechenanalytik. Kaiserslautern (D), 1990.