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X-ray induced fluorescence spectrometry at grazing incidence for quantitative surface layer analysis

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  • URL: https://publications.hereon.de/id/15812/
  • Authors:Weisbrod, U., Gutschke, R., Knoth, J., Schwenke, H.
  • Year:1990
  • In: Fachausschuss Oberflaechenphysik in der Deutschen Physikalischen Gesellschaft: 6. Arbeitstagung Angewandte Oberflaechenanalytik
  • Location:Kaiserslautern (D)
  • Date:9.-12. Juli 1990
  • Cite as: Weisbrod, U.; Gutschke, R.; Knoth, J.; Schwenke, H.: X-ray induced fluorescence spectrometry at grazing incidence for quantitative surface layer analysis. In: Fachausschuss Oberflaechenphysik in der Deutschen Physikalischen Gesellschaft: 6. Arbeitstagung Angewandte Oberflaechenanalytik. Kaiserslautern (D), 9.-12. Juli 1990, 1990.
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