Quantitative Analyse von Phasen und Segregationen in Gamma-TiAl-Legierungen
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URL: https://publications.hereon.de/id/15594/
Authors:Sternitzke, M., Oehring, M., Lorenz, U., Appel, F., Wagner, R.
Year:1999
In: Proceedings der Werkstoffwoche der Deutschen Gesellschaft fuer Materialkunde 1998
Volume:6
Location:Muenchen (D)
Date:12.-15. Oktober 1998
Issue:Sympo. 8
Pages:497 - 502
Type:Confpaper
ISBN: 3-527-29943-2
Cite as: Sternitzke, M.; Oehring, M.; Lorenz, U.; Appel, F.; Wagner, R.: Quantitative Analyse von Phasen und Segregationen in Gamma-TiAl-Legierungen. In: Kopp, R.; Herfurth, K.; Boehme, D.; Bormann, R.; Arzt, E.; Riedel, H. (Eds.): Proceedings der Werkstoffwoche der Deutschen Gesellschaft fuer Materialkunde 1998. Vol. 6 Muenchen (D), 12.-15. Oktober 1998, 1999. Sympo. 8, 497 - 502. (ISBN: 3-527-29943-2)
