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Journalpaper

Finite-Element-Analysen zur Ermittlung von Eichkurven fuer das Messen der Tiefe von halbkreis- und ellipsenfoermigen Oberflaechenrissen mit der Gleichstrom-Potential-Methode

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  • URL: https://publications.hereon.de/id/12122/
  • Authors:Dietrich, R. A.
  • Year:1990
  • In: Schweissen und Schneiden
  • Volume:42
  • Issue:2
  • Pages: 86-91
  • Type:Journalpaper
  • ISSN: 0036-7184
  • Cite as: Dietrich, R. A.: Finite-Element-Analysen zur Ermittlung von Eichkurven fuer das Messen der Tiefe von halbkreis- und ellipsenfoermigen Oberflaechenrissen mit der Gleichstrom-Potential-Methode. In: Schweissen und Schneiden. Vol. 42 (1990) 2, 86-91.
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