Finite-Element-Analysen zur Ermittlung von Eichkurven fuer das Messen der Tiefe von halbkreis- und ellipsenfoermigen Oberflaechenrissen mit der Gleichstrom-Potential-Methode
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URL: https://publications.hereon.de/id/12122/
Authors:Dietrich, R. A.
Year:1990
In: Schweissen und Schneiden
Volume:42
Issue:2
Pages:86-91
Type:journal article,GKSS report
ISSN: 0036-7184
Cite as: Dietrich, R.: Finite-Element-Analysen zur Ermittlung von Eichkurven fuer das Messen der Tiefe von halbkreis- und ellipsenfoermigen Oberflaechenrissen mit der Gleichstrom-Potential-Methode. Schweissen und Schneiden. 1990. vol. 42, no. 2, 86-91.
