Hochaufloesende Elektronenmikroskopie von inneren Grenzflaechen in einer zweiphasigen TiAl Legierung: 25. Tagung der Deutschen Gesellschaft fuer Elektronenmikroskopie e. V., 1.-7. September 1991 in Darmstadt
No abstract available.
URL: https://publications.hereon.de/id/11876/
Authors:Appel, F.,Beaven, P. A.,Neumann, W.,Wagner, R.
Year:1991
In: Optik
Volume:88
Pages:Supplement
Type:journal article
ISSN: 0030-4026
Cite as: Appel, F.; Beaven, P.; Neumann, W.; Wagner, R.: Hochaufloesende Elektronenmikroskopie von inneren Grenzflaechen in einer zweiphasigen TiAl Legierung: 25. Tagung der Deutschen Gesellschaft fuer Elektronenmikroskopie e. V., 1.-7. September 1991 in Darmstadt. Optik. 1991. vol. 88, Supplement.
