Hochaufloesende Elektronenmikroskopie von inneren Grenzflaechen in einer zweiphasigen TiAl Legierung: 25. Tagung der Deutschen Gesellschaft fuer Elektronenmikroskopie e. V., 1.-7. September 1991 in Darmstadt
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URL: https://publications.hereon.de/id/11876/
Authors:Appel, F., Beaven, P. A., Neumann, W., Wagner, R.
Year:1991
In: Optik
Volume:88
Pages:Supplement
Type:Journalpaper
ISSN: 0030-4026
Cite as: Appel, F.; Beaven, P. A.; Neumann, W.; Wagner, R.: Hochaufloesende Elektronenmikroskopie von inneren Grenzflaechen in einer zweiphasigen TiAl Legierung: 25. Tagung der Deutschen Gesellschaft fuer Elektronenmikroskopie e. V., 1.-7. September 1991 in Darmstadt. In: Optik. Vol. 88 (1991) Supplement.
