@misc{wiener_quantitative_tiefenprofilanalyse_1994, 
author={Wiener, G., Michaelsen, C., Guenther, R., Knoth, J., Schwenke, H., Bormann, R.},
title={Quantitative Tiefenprofilanalyse durch Kombination von Sputtertechniken mit Totalreflexions-Roentgenfluoreszensanalyse},
year={1994},
howpublished = {conference lecture: Kiel (D);},
note = {Wiener, G.; Michaelsen, C.; Guenther, R.; Knoth, J.; Schwenke, H.; Bormann, R.: Quantitative Tiefenprofilanalyse durch Kombination von Sputtertechniken mit Totalreflexions-Roentgenfluoreszensanalyse. Vortrag an der Technischen Fakultaet der Universitaet Kiel. Kiel (D), 1994.}}