@misc{kamusewitz_moeglichkeiten_und_1995, 
author={Kamusewitz, H.},
title={Moeglichkeiten und Grenzen der Kontaktwinkelmessung und der Raster-Kraft-Mikroskopie fuer die Charakterisierung von Grenzflaechen an synthetischen Flach- und Hohlfadenmembranen},
year={1995},
howpublished = {conference lecture: Kiel (D);},
note = {Kamusewitz, H.: Moeglichkeiten und Grenzen der Kontaktwinkelmessung und der Raster-Kraft-Mikroskopie fuer die Charakterisierung von Grenzflaechen an synthetischen Flach- und Hohlfadenmembranen. Vortrag an der Technischen Fakultaet der Christian-Albrechts-Universitaet Kiel. Kiel (D), 1995.}}