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%@ 0340-3815
%A Schossig-Tiedemann, M.

%D 1995
%J Beitraege zur Elektronenmikroskopischen Direktabbildung und Analyse von Oberflaechen

%P 209-219 

%T Praeparationsverfahren und Untersuchung von synthetischen Membranen an einem Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop
%U 
 
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