%0 conference poster
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%A Haeussler, D.,Jaeger, W.,Yang, S.,Spieker, E.,Stoermer, M.,Zwicker, G.

%D 2005
%J Jahrestagung - Deutsche Gesellschaft fuer Kristallographie (DGK), Deutsche Gesellschaft fuer Kristallwachstum und Kristallzuechtung (DGKK) und Nationalkomitee fuer Kristallographie der Oesterreichischen Akademie der Wissenschaften (NKK-OEAW)
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%P  

%T Quantitative TEM-Charakterisierung komplexer Schichtsysteme mit Hilfe der geometrischen Phasenmethode
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