%0 conference lecture
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%A Kamusewitz, H.

%D 1995
%J Vortrag an der Technischen Fakultaet der Christian-Albrechts-Universitaet Kiel
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%T Moeglichkeiten und Grenzen der Kontaktwinkelmessung und der Raster-Kraft-Mikroskopie fuer die Charakterisierung von Grenzflaechen an synthetischen Flach- und Hohlfadenmembranen
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