%0 journal article
%@ 0030-4026
%A Appel, F.,Beaven, P. A.,Neumann, W.,Wagner, R.

%D 1991
%J Optik
%N 
%P Supplement 

%T Hochaufloesende Elektronenmikroskopie von inneren Grenzflaechen in einer zweiphasigen TiAl Legierung: 25. Tagung der Deutschen Gesellschaft fuer Elektronenmikroskopie e. V., 1.-7. September 1991 in Darmstadt
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