@misc{berg_testing_damage_2006, 
author={Berg, M.,Bionta, R.,Caleman, K.,Chapulski, J.,Chapman, H.,Cihelka, J.,Hajdu, J.,Hajkova, V.,Hau-Riege, S.,Juha, L.,Jurek, M.,Koptyaev, S.,Krenz-Tronnier, A.,Krzywinski, J.,Kuba, J.,Lee, R.W.,London, R.,Meyer-ter-Vehn, J.,Nietubyc, R.,Pelka, J.B.,Sobierajski, R.,Sokolowski-Tinten, K.,Stoermer, M.,Stojanovic, N.,Toleikis, S.,Tschentscher, T.,Velyhan, A.,Vorlicek, V.,Wabnitz, H.,Zastrau, U.},
title={Testing damage to various optical materials using VUV FEL},
year={2006},
howpublished = {conference poster: Hamburg (D); 27.01.2006},
note = {Online available at: \url{} (DOI). Berg, M.; Bionta, R.; Caleman, K.; Chapulski, J.; Chapman, H.; Cihelka, J.; Hajdu, J.; Hajkova, V.; Hau-Riege, S.; Juha, L.; Jurek, M.; Koptyaev, S.; Krenz-Tronnier, A.; Krzywinski, J.; Kuba, J.; Lee, R.; London, R.; Meyer-ter-Vehn, J.; Nietubyc, R.; Pelka, J.; Sobierajski, R.; Sokolowski-Tinten, K.; Stoermer, M.; Stojanovic, N.; Toleikis, S.; Tschentscher, T.; Velyhan, A.; Vorlicek, V.; Wabnitz, H.; Zastrau, U.: Testing damage to various optical materials using VUV FEL. In: HASYLAB Users Meeting. Hamburg (D). 2006.}}