@misc{haeussler_quantitative_temcharakterisierung_2005, 
author={Haeussler, D.,Jaeger, W.,Yang, S.,Spieker, E.,Stoermer, M.,Zwicker, G.},
title={Quantitative TEM-Charakterisierung komplexer Schichtsysteme mit Hilfe der geometrischen Phasenmethode},
year={2005},
howpublished = {conference poster: Koeln (D); 28.02.-04.03.2005},
note = {Online available at: \url{} (DOI). Haeussler, D.; Jaeger, W.; Yang, S.; Spieker, E.; Stoermer, M.; Zwicker, G.: Quantitative TEM-Charakterisierung komplexer Schichtsysteme mit Hilfe der geometrischen Phasenmethode. In: Jahrestagung - Deutsche Gesellschaft fuer Kristallographie (DGK), Deutsche Gesellschaft fuer Kristallwachstum und Kristallzuechtung (DGKK) und Nationalkomitee fuer Kristallographie der Oesterreichischen Akademie der Wissenschaften (NKK-OEAW). Koeln (D). 2005.}}