@misc{wiener_quantitative_tiefenprofilanalyse_1994, 
author={Wiener, G.,Michaelsen, C.,Guenther, R.,Knoth, J.,Schwenke, H.,Bormann, R.},
title={Quantitative Tiefenprofilanalyse durch Kombination von Sputtertechniken mit Totalreflexions-Roentgenfluoreszensanalyse},
year={1994},
howpublished = {conference lecture: Kiel (D); 10. Oktober 1994},
note = {Online available at: \url{} (DOI). Wiener, G.; Michaelsen, C.; Guenther, R.; Knoth, J.; Schwenke, H.; Bormann, R.: Quantitative Tiefenprofilanalyse durch Kombination von Sputtertechniken mit Totalreflexions-Roentgenfluoreszensanalyse. Vortrag an der Technischen Fakultaet der Universitaet Kiel. Kiel (D), 1994.}}