@misc{appel_hochaufloesende_elektronenmikroskopie_1991, 
author={Appel, F.,Beaven, P. A.,Neumann, W.,Wagner, R.},
title={Hochaufloesende Elektronenmikroskopie von inneren Grenzflaechen in einer zweiphasigen TiAl Legierung: 25. Tagung der Deutschen Gesellschaft fuer Elektronenmikroskopie e. V., 1.-7. September 1991 in Darmstadt},
year={1991},
howpublished = {journal article},
note = {Online available at: \url{} (DOI). Appel, F.; Beaven, P.; Neumann, W.; Wagner, R.: Hochaufloesende Elektronenmikroskopie von inneren Grenzflaechen in einer zweiphasigen TiAl Legierung: 25. Tagung der Deutschen Gesellschaft fuer Elektronenmikroskopie e. V., 1.-7. September 1991 in Darmstadt. Optik. 1991. vol. 88, Supplement.}}